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    • 美國進口 X射線熒光分析測厚儀

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    • Cube系列X射線熒光分析測厚儀

      Cube系列X射線熒光分析測厚儀 Cube系列技術特點 一、功能 1.采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足GB/T16921-2005標準(等同ISO3497:2000、ASTMB568和DIN50987)。

    • ACZET系列X射線熒光分析測厚儀

      ACZET系列X射線熒光分析測厚儀 本儀器能提供:鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優越,而且價格優惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進行,只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果,多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的*選。 Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元

    • 辰華電化學石英晶體微天平

      辰華電化學石英晶體微天平 型號:CHI400C系列 CHI400C系列時間分辨電化學石英晶體微天平(EQCM)是CHInstruments與武漢大學合作的產品(武漢大學*利)。石英晶體微天平(QCM)可進行極靈敏的質量測量。

    • 辰華掃描電化學顯微鏡

      辰華掃描電化學顯微鏡 型號:CHI900D/920D 電化學掃描顯微鏡(SECM)發明于1989年并獲得美國*利。CHInstruments與UniversityofTaxesatAustin的化學系的AllenJ.Bard教授合作實現了電化學掃描顯微鏡的儀器商品化,從而使得這一強有力的研究方法走進了更多的實驗室

    • 上海辰華CHI1000C多通道恒電位儀

      上海辰華CHI1000C多通道恒電位儀 CHI1000C系列為八通道恒電位儀,可用于傳感器等需要多工作電極同時測量的條件下或其它電化學應用。儀器由數字信號發生器,多道選通數據采集系統,和多恒電位儀組成。

    • 上海辰華CHI800D電化學分析儀

      上海辰華CHI800D電化學分析儀 CHI800D系列電化學分析儀可用于液相色譜,流動電解池,以及毛細管電泳的電化學檢測,生物傳感器,活體分析,和一般用途的電化學分析。

    • 上海辰華CHI760E雙恒電位儀

      上海辰華CHI760E雙恒電位儀 型號:CHI700E系列 CHI700E系列是通用雙恒電位儀,可同時控制同一電解池中的兩個工作電極的電位,其典型應用是旋轉環盤電極,也能被用于其它需要雙工作電極的情況下。雙恒電位儀只能用于同一溶液中的兩個工作電極的電位控制以及電流測量,而不是兩個獨立的恒電位儀。

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